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X-射線熒光光譜/XRF

一種能快獲得材料中化學(xué)成分信息的無損分析方法,適用于各種形態(tài)的樣品(包括固體、粉末、顆粒、液體等)。

設(shè)備型號:ATLAS 

生產(chǎn)廠商:IXRF SYSTEMS

XRF人機(jī)

XRF_Mapping_01-XRF2

 

特點(diǎn)

檢測速度快,數(shù)分鐘內(nèi)就可獲得材料的組成信息 (元素檢測范圍:Na~U)

· 主要應(yīng)用:未知物分析,牌號鑒定

取樣面積小,最小取樣面積5um

· 主要應(yīng)用:分辨微小區(qū)域的組成比例分布,可做微區(qū)面掃描分析(mapping)

測量重現(xiàn)性高,主元素RSD<0.5%

· 主要應(yīng)用:材料研發(fā),工藝調(diào)整,反向工程。

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