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半導體材料

GDMS儀器具有對不同形態的材料分析能力。可以分析任何形態的樣品 (塊材,薄片,顆粒,粉末等),這對于高性能材料加工 的行業,在同樣的分析基礎上,為材料在加工前后提供更客觀的分析數據,優化生產工藝。

 

   

 

GDMS常規檢測限 Si片/Si塊

 

GDMS常規檢測限 Si顆粒/Si粉(使用輔助電極)

 

 

 

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